橡膠硬度計XHS-D

橡膠硬度計XHS-D 

測量硬質橡膠、塑料材料硬度的試驗儀器。 
執(zhí)行標準：GB/T2411、JJG1039。 
橡膠硬度計XHS-D  主要技術參數(shù): 
壓針行程：0-2.5mm 
硬度顯示范圍：0-100度 
試樣厚度：≥4mm（可兩層疊加） 
三種硬度計的適應范圍： 
1、XHS-A：常規(guī)硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-85度  
2、XHS-D：高值硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-80度（當A型硬度在85度以上,應采用D型測量）  
3、XHS-W：低值硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-85度（當A型硬度在35度以下,應采用W型測量） 

產品名稱：電阻率方塊電阻測試儀  產品型號：KDB-1

本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。 
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續(xù)調節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。 
由于儀器設有恒流源開關，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。 
儀器性能 
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探針壓力：25g～250g； 
探針曲率半徑：25μm～450μm 
（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）； 
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調 
           （100mA檔）    8～36V連續(xù)可調 
          （1000mA檔）    8～15V連續(xù)可調； 
測量方式：手動或自動（配置測試軟件）； 
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。 
 

產品名稱：聲級計 噪音計 噪聲計  產品型號： TES-1351B

聲級計 噪音計 噪聲計 型號： TES-1351B 
標準:   IEC 61672-1Class2和ANSIS1.4 TYPE2 
測量范圍:   A LO (Low) - Weighting: 35- 95dB 
   A HI (High) - Weighting:65-130dB 
   C LO (Low) - Weighting: 35- 95dB 
   C HI (High) - Weighting:65-130dB 
解析度:   0.1dB 
頻率范圍:   20Hz ~ 8KHz 
準確度:   ±1.4dB (在參考音壓位準, 94dB @1KHz) 
動態(tài)范圍:   65dB 
權衡網(wǎng)路頻率:   Ａ、Ｃ 
反應速率:  快速(FAST:125mS) 慢速(SLOW:1second) 脈衡(IMPULSE:35mS) 
讀值鎖定:  MAX HOLD(下降率 ≤1dB/3分鐘 
麥克風:   化電容式麥克風 
校　正:   內部94.0dB校正 
輸　出:  AC約0.55Vrms(每范圍檔),輸出阻抗600ΩDC約10mV/dB (nominally) 
輸出阻抗:   100Ω 
操作溫濕度:   0℃ ~40℃ 10%RH~ 80% R. H. 
儲存溫濕度:  -10℃~+60℃    -10%RH~75% R.H. 
顯示器:4位數(shù)LCD顯示音量位準dB(分貝),過范圍指示"OVER",低電池電力"BT"符號指示. 
電　源: 單一9V電池,006P或NEDA1604或IEC6F22 
尺寸及重量:  240mm(L)x68mm(W)x25mm(H)&215g 
標準附件:  皮套,測試棒,電池,使用說明書